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德國菲希爾X射線熒光法(XRFA)原理及應用
點擊次數:4102 更新時間:2020-06-23
 

能量散射X射線熒光光譜法(EDXRF)作為鍍層厚度測量和材料分析的方法,可用來定量和定性分析樣品的元素組成,也可用于鍍層和鍍層系統(tǒng)的厚度測量。無論是在實驗室還是工業(yè)生產環(huán)境中,這一方法都能完美勝任,并還可以與現代化設備一起發(fā)揮作用。

原理
X射線熒光分析基于以下物理現象:樣品材料中的原子由于受到初級X射線轟擊,從而失去內層軌道中的某些電子。失去電子所留下的空穴會被外層電子來填補,在填補的過程中,會產生每個元素*的特征X射線熒光。接收器探測到該熒光射線后,便能提供樣品的材料組成等信息。

應用
由于能量色散X射線熒光光譜法可以分析材料成分和測量薄鍍層及鍍層系統(tǒng),因而應用廣泛:
在電子和半導體產業(yè)里,測量觸點上薄金,鉑和鎳層厚度或痕量分析。
在鐘表和珠寶行業(yè)或采礦精煉工業(yè)中,精確分析貴金屬合金組分。
在質量管控和來料檢驗中,需要確保產品或零部件*材料設計規(guī)范。如在太陽能光伏電池產業(yè)中,光伏薄膜的成分組成和厚度大小決定了光伏電池的效率。在電鍍行業(yè)中,則需要測量大批量部件的厚度。
對于電子產品的生產者和采購者,檢驗產品是否符合《限制在電子電氣產品中使用有害物質的指令》(RoHS指令)也是十分關鍵的。
在玩具工業(yè)中,也需要有可靠的有害物質檢測手段。
對于以上測量應用,菲希爾的FISCHERSCOPE X-射線光譜儀都能完美勝任。

 

 
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